



Nowy produkt
Miernik przeznaczony do badania natężenia oświetlenia do 400 kLx z max. rozdzielczością 0,1 Lx.
Świadectwo wzorcowania w cenie.
Ostatnie egzemplarze!
Data dostępności:

LXP-2 Luksomierz ze Świadectwem wzorcowania
Miernik przeznaczony do badania natężenia oświetlenia do 400 kLx z max. rozdzielczością 0,1 Lx.
Świadectwo wzorcowania w cenie.
Odbiorca: :
* Pola wymagane
lub Anuluj
OPIS
Miernik przeznaczony do badania natężenia oświetlenia do 400 kLx z max. rozdzielczością 0,1 Lx. Dodatkowo istnieje możliwość zapisania uzyskanych wyników w pamięci przyrządu, a następnie dokonania transmisji danych do komputera. Wyposażenie dodatkowe stanowi program FOTON umożliwiający wykonanie protokołu z pomiarów natężenia oświetlenia zgodnie z normą PN-EN 12464.
PARAMETRY TECHNICZNE
Do najważniejszych cech przyrządu należą:
Zakresy pomiarowe sondy LP-1:
| Zakres wyświetlania [lx]  | Rozdzielczość [lx]  | Niepewność widmowa  | Niepewność podstawowa  | 
| 0...399,9 | 0,1 | f1 < 6% | ±(5 % + 5 cyfr) | 
| 400...3999 | 1 | ||
| 4,00 k...19,99 k | 0,01 k | 
| Zakres wyświetlania [fc]  | Rozdzielczość [fc]  | Niepewność widmowa  | Niepewność podstawowa  | 
| 0...39,9 | 0,01 | f1 < 6% | ±(5 % + 5 cyfr) | 
| 40,0...399,9 | 0,1 | ||
| 400...1999 | 1 | 
- wyświetlanie wyniku w lx lub fc
 - klasa miernika B
Nominalne warunki użytkowania:
Pozostałe dane techniczne:
WYPOSAŻENIE