Nowy produkt
Miernik przeznaczony do badania natężenia oświetlenia do 400 kLx z max. rozdzielczością 0,1 Lx.
Świadectwo wzorcowania w cenie.
Ostatnie egzemplarze!
Data dostępności:
LXP-2 Luksomierz ze Świadectwem wzorcowania
Miernik przeznaczony do badania natężenia oświetlenia do 400 kLx z max. rozdzielczością 0,1 Lx.
Świadectwo wzorcowania w cenie.
Odbiorca: :
* Pola wymagane
lub Anuluj
OPIS
Miernik przeznaczony do badania natężenia oświetlenia do 400 kLx z max. rozdzielczością 0,1 Lx. Dodatkowo istnieje możliwość zapisania uzyskanych wyników w pamięci przyrządu, a następnie dokonania transmisji danych do komputera. Wyposażenie dodatkowe stanowi program FOTON umożliwiający wykonanie protokołu z pomiarów natężenia oświetlenia zgodnie z normą PN-EN 12464.
PARAMETRY TECHNICZNE
Do najważniejszych cech przyrządu należą:
Zakresy pomiarowe sondy LP-1:
Zakres wyświetlania [lx] | Rozdzielczość [lx] | Niepewność widmowa | Niepewność podstawowa |
0...399,9 | 0,1 | f1 < 6% | ±(5 % + 5 cyfr) |
400...3999 | 1 | ||
4,00 k...19,99 k | 0,01 k |
Zakres wyświetlania [fc] | Rozdzielczość [fc] | Niepewność widmowa | Niepewność podstawowa |
0...39,9 | 0,01 | f1 < 6% | ±(5 % + 5 cyfr) |
40,0...399,9 | 0,1 | ||
400...1999 | 1 |
- wyświetlanie wyniku w lx lub fc
- klasa miernika B
Nominalne warunki użytkowania:
Pozostałe dane techniczne:
WYPOSAŻENIE